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課程管理

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課程資料
課程編號P107133
課程分類IC製造與設備
課程名稱(中)【工四館101室】積體電路測試技術(實作課)
授課教師趙家佐
課程程度應用
先修科目或先備能力
課程大綱

1. Testable Digital Design

2. Low-power Testing

3. Test-data Compression

4. Memory Testing

5. Test-structure Design

6. Wafer Acceptance Testing

7. Delay Testing
課程目的本課程為積體電路測試技術課程,期讓學員深入瞭解測試技術。邀請測試領域的專家,詳細介紹傳統與最先進的測試與可測試設計技術。學員在學習之後,不但能夠解決多樣化積體電路(IC)測試的問題,更能夠在設計之中加入測試的概念,設計出高品質與低測試成本的IC
開課日期2018-10-01
結束日期2018-10-11
出席時數每週一、四
上課時段Pm18:30~21:30
課程總時數12小時
上課地點交通大學工程四館101教室
實作地點交通大學工程四館415電腦教室
下載報名表 P107133 積體電路測試技術(實作課)
若無法線上報名, 請下載報名表寄至nctuee@nctu.edu.tw
學費
  1. 學員自付學費【由科管局補助80%】
    .4,000元 備註:一般價
    .3,500元 備註:特約廠商、3人(含)以上團報價
    .3,000元 備註:5人(含)以上團報優惠價
線上報名開始時間2018-03-20
線上報名結束時間2018-10-01
線上報名人數限制30人
建立者林明霓
最後修改時間2018-08-29 15:13:47
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